一种半导体检测用测试设备
2025-02-28 11:09
No.1344990011220828160
技术概要
PDF全文
本实用新型公开一种半导体检测用测试设备,包括箱体、检测箱和检测组件,所述箱体的上方固定安装有检测箱,所述检测箱的内部活动安装有检测组件,通过将半导体放置在检测箱内部,通过检测组件进行测试使用,所述检测组件包括检测台、检测盒、第一气缸、传感检测器、第二气缸和光感器,所述检测箱的内部转动安装有检测台,所述检测台顶部的两侧固定安装有检测盒;本实用新型通过压板的移动对半导体进行固定检测,操作简单方便,使工作效率进行一定的提升,本实用新型通过设有传感检测器、显微检测仪与X光感器,有利于在进行检查时先通过传感检测器进行检测,之后通过光感器再次检测后进行数据传输,对半导体的问题能更直观的检测。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件,无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联,常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种; 在现有文件202320359092.7中,不能对产品进行全方位检测,在检测时无法进行多种功能的检测使用,在检测时需要更换不同的设备进行,大大降低检测的检测效率,因此,本实用新型提出一种半导体检测用测试设备以解决现有技术中存在的问题。
实现思路
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该技术已申请专利,如用于商业用途,请联系技术所有人!
技术研发人员:
杨志勇单庆喜王恒
技术所属: 扬州韩思半导体科技有限公司.
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