本申请涉及显微镜成像处理技术领域,具体涉及一种双光子显微镜及相关显微成像方法,该方法包括:获取双子显微镜在各焦距下拍摄的断层图像;根据断层图像的局部灰度变化得到断层图像中各像素点的平面频率;根据所有断层图像中相同行、相同列的像素点组成的图像的局部灰度变化,得到相邻断层图像中对应像素点之间的高频插值权重;根据相邻两张断层图像中所有边缘像素点空间分布特征和高频插值权重,得到插值调控权重对各像素点的灰度值进行加权,得到相邻两张断层图像之间的插值图像;根据所有断层图像及插值图像得到双子显微镜的显微成像结果。本申请可提高双光子显微镜的成像质量。
背景技术
双光子显微镜是一种基于多光子激发原理的荧光显微技术,其具有三维层析能力,能够通过测量物体的断层图像生成物体的三维信息图像,在医学、细胞学领域得到广泛应用。在使用双光子显微镜生成三维信息图像时,为了提高图像的纵向分辨率,通常需要在断层图像之间进行插值。
现有的插值方法多采用线性插值或是高阶非线性插值,通常采用光滑曲线来拟合已知数据,本质上都是一种低通处理;而图像中对象的边界主要由高频分量决定,低通处理会忽略高频分量的信息,进而导致插值结果出现边界模糊。因此在双光子显微镜成像中,在对断层图像间进行插值时,因为现有插值方法对边缘高频信息的忽略,导致断层图间的插值图像有边缘模糊的问题,进而影响最终的三维成像效果。
实现思路