本技术提供了一种基于重构网络的缺陷检测方法,通过采集无缺陷图片,经数据增强处理,得到增强的样本;再构建重构网络,将其训练后作为特征提取器,对增强的样本进行特征提取,得到特征向量;然后构建基于跨尺度流的检测网络,将特征向量变换成不同的比例,并对不同比例对应的多尺度特征图并行地进行密度估计,输出异常密度图,得到缺陷检测结果。通过上述方式,本发明能够将重构网络作为特征提取器,对样本特征进行精确提取;并引入跨尺度流联合处理不同尺度的图像特征,再使用完全卷积的归一化流在各尺度之间进行交叉连接,对特征进行密度估计,使图像上的缺陷区域能够被可视化,且能够在训练样本数量较少的情况下取得较好的检测效果。
背景技术
近年来,越来越多的工业技术关注于表面缺陷检测,并改善了工业领域的质量控制。由于表面缺陷对工业产品的质量结果有很大影响,确保有缺陷的产品在早期阶段被注意到是至关重要的。在缺陷检测过程中,需要仔细和可靠地检测小缺陷,传统的人工检测已经难以满足需求,基于深度学习的检测方式逐渐成为缺陷检测的发展方向。
现有的缺陷检测技术大多分为有监督和无监督两种方法,有监督的方式需要对缺陷进行大量的手动标记后进行分割训练,但是因为缺陷的样式与大小各不相同,手动标记是一个又耗时又浪费人力的事情;相比之下,无监督的方式会显得较为轻松,全程需要大量的正常样本进行训练,不需要手动标记,但是这种方式的检测效果相对会没有那么理想,不同的数据增强方式会导致训练效果不同,缺陷的特征也很难定义,新类型的缺陷可能一直在发生,同时检测结果也会出现偏差,如无法检测小缺陷等,并且对正常样本的数据量需求也较大。此外,现实世界的产品图像实际上包含大量的背景噪声,常导致缺陷检测的结果变得不太可靠。
公开号为CN114235847A的专利提供了一种液晶面板玻璃基板表面缺陷检测装置及检测方法。该专利在采用深度学习算法对玻璃基板缺陷进行判断时,通过对图像进行区域分割,并对干扰项进行特征提取,再建立图像重构网络对缺陷进行判定,完成了对玻璃基板缺陷的判定。然而,该专利中采用常规方式进行特征提取,并将重构网络用于缺陷判定的方式不仅难以精确提取缺陷特征,对缺陷的判定结果不够准确,需要较大的训练样本数量,不适用于工业中缺少样本的缺陷检测场景,具有一定的局限性。
有鉴于此,有必要设计一种改进的基于重构网络的缺陷检测方法,以解决上述问题。
实现思路