本技术涉及一种锥束CT散射校正技术,包括装置、电子设备和存储介质。该技术通过采集两组工件的DR投影数据和散射校正板的单幅DR投影,实现精准的散射校正,提高成像质量。
背景技术
在X射线成像过程中,对工件如航空发动机涡轮叶片使用计算机X线断层扫描(CT)检测,涡轮叶片因其高密度和复杂的几何形状,在扫描中容易引发噪声问题,导致重建图像出现伪影。散射伪影与投影叠加是制约成像质量的重要因素。大部分伪影由康普顿效应引起,导致探测器接收到的光子包含了初始光子和散射光子,使得测量结果与实际强度测量结果存在偏差,降低图像的对比度,影响图像质量,边界及内部结构信息模糊。因此,为了提高图像质量,获取更清晰的图像细节,需要对锥束CT图像进行散射校正。
使用散射校正板进行数字射线(DR)投影图像散射校正,目前有射束阻止阵列法((BSA))、射束孔阵列法((BHA))和射束阻止网格法((BSG))等方法,以BSA方法为例,校正板由有机玻璃板构成,并在其中嵌入了均匀排布的铅块,将校正板放置于探测器前,探测器上铅块对应的位置上探测到的光强都是由散射射线产生的,通过对相应铅块质心处的信号值进行二维插值,扩展到整个平面,得到散射强度分布图。该方法缺点是由于校正板的遮挡,探测器接收到的数据较少,同时只选取质心处信号插值,导致拟合出的散射信号准确率降低。
实现思路