本技术介绍了一种基于改进YOLOv8-seg的芯片表面缺陷分割模型及其训练方法。该模型通过优化Backbone模块,构建了高效的分割检测网络,旨在提高芯片表面缺陷检测的准确性和效率。
背景技术
在半导体制造过程中,芯片表面缺陷的检测是确保产品质量和可靠性的关键环节。传统的缺陷检测方法往往依赖于人工检查或基于规则的算法,人工检查不仅劳动强度大,还容易受到主观因素的影响,而传统图像处理算法在处理复杂背景和多样化缺陷方面存在局限。因此,研发一种高效准确的分割模型的检测算法,能够在实时性和精度上进行优化,以满足缺陷检测的准确率和效率的提升。
随着深度学习技术的进步,尤其是卷积神经网络(CNN)的发展,基于深度学习的缺陷检测方法逐渐得到广泛应用。深度学习模型能够自动学习特征,并在复杂的背景下实现高效的缺陷检测,目标检测(如YOLO系列)和图像分割(如Mask R-CNN)模型的结合,使得缺陷的定位和边界识别更为精确,YOLOv8-seg是YOLO系列模型中的一个改进版本,结合了目标检测和图像分割的能力。该模型不仅可以检测缺陷的存在,还能够精确地分割缺陷区域,在速度和精度上都有显著提升,适用于实时处理和高分辨率图像的检测任务。
然而,现有的方法在面对复杂背景和低对比度缺陷时,检测的精度相对较低,还需进一步改进和优化。
实现思路