本技术介绍了一种优化版YOLOv8芯片表面缺陷检测模型及其训练方法和应用。该模型通过改进YOLOv8算法,实现了对芯片表面缺陷的轻量化目标检测。模型构建包括Backbone网络优化,以提高检测精度和降低计算复杂度。
背景技术
随着半导体行业的快速发展,芯片表面缺陷检测已成为工业生产中的关键环节。传统的检测方法主要依赖人工检测或简单的机器视觉系统,这些方法效率低、漏检率高,无法满足现代高精度要求。因此,自动化的缺陷检测方法应运而生,尤其是基于深度学习的目标检测模型在芯片缺陷检测中展现出巨大的应用潜力。
YOLOv8作为目标检测领域的模型,具备高效、精准的目标检测能力。然而,在实际应用中,传统YOLOv8模型对小目标的检测效果不佳,并且在处理复杂背景时准确率有所下降。
实现思路