随着科学研究的发展和光子产业的升级，对于能够在介观尺度精细表征材料光学特性，并且能够实时快速获取样品信息的强烈需求将促进相关检测技术的进步。通常用于光学测量的光学设备使用激光作为激发光源经激发光路后进入物镜，然后照射样品表面。样品产生的信号光通过显微成像测量系统进行收集和处理。现有的光学设备的显微成像测量系统中各个光学元件的位置固定不动，只能对位于物镜的光轴(也就是视野中心)的信号进行收集和测量；无法测量待测样品的实空间的像或动量空间的像中偏离光轴的预定点或区域的信号。