多孔径成像系统协同定位点标校技术与设备
2025-02-11 21:26
No.1338984516286685184
技术概要
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本技术涉及一种多孔径成像系统的协同定位点标校技术及其装置。该技术通过设计远场等效光路,为待标定的多孔径光学成像系统提供远场直线目标,实现各孔径对远场直线目标的成像,从而进行点标校。
背景技术
目标定位是光学成像探测系统实现对目标进行稳定闭环跟踪的前提。光学成像探测系统一般通过提取目标图像上的一个点作为基准定位点,进而利用跟踪控制子系统对该定位点进行闭环,从而目标的高精度稳定跟踪。这种定位点一般是目标图像的质心或者形心。由于多数情况下,光学成像探测系统需要探测的目标多是具有一定尺寸的扩展目标,因而在有高精度跟踪需求的应用场景下往往有变更定位点进行偏置跟踪的需要。一般方法是基于质心或形心等初始定位点给出一个偏置向量,并根据这个向量重新确定新的定位点,进而切换目标的闭环跟踪位置。 但是对于多孔径成像探测系统,上述方式可能存在一定问题。多孔径成像系统是指成像系统具有多个独立的成像和闭环控制通道。由于多孔径光电成像探测系统不仅具备各孔径协同工作能力,而且各孔径间也可互为备份,因而在成像探测领域应用越来越广。对于多孔径探测系统,所有孔径在对目标上任意点进行闭环跟踪时往往需要基于相同的初始定位点给出的偏置向量。在忽略各孔径视差对目标成像构型影响条件下,各孔径的最佳初始定位点是目标图像的质心或形心。显然,各孔径偏置向量的一致性是影响各孔径协同定位一致性的关键因素。为简化控制逻辑,多孔径探测系统一般采用统一的偏置向量对目标上的任意点进行定位点切换。由于不同孔径成像面间由于相机安装角度等因素影响可能存在旋角误差,因而对不同孔径成像面间的旋角误差进行标校是各孔径高精度协同闭环在同一目标点的必要前提。然而目前尚未有合适的用于对不同孔径成像面间的旋角误差进行标校的方法公开。
实现思路
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该技术已申请专利,如用于商业用途,请联系技术所有人!
技术研发人员:
王彦  陈金宝  刘文广  周琼  张汉伟  刘鹏飞  何锋  孙全  张丹
技术所属: 中国人民解放军国防科技大学
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