本技术涉及一种存储芯片物理破坏检测技术,包括接收物理破坏信号并激活破坏电源,实时监测分压电路电压,确保存储芯片安全、有效地被物理破坏,防止数据泄露。
背景技术
针对存储芯片的物理销毁,目前的做法是分路定时的方法,就是用固定的时间(比如5秒)通过高压去顺序烧毁该存储芯片中的每一片NAND Flash(NAND闪存),也就是说这5秒钟时间一直给当前NAND Flash通高压电源;如果5秒内NAND Flash已经烧毁了,还会继续给NAND Flash通电直到5秒结束,这样就浪费时间和电能;如果5秒内没有烧毁NAND Flash,它会终止烧毁当前NAND Flash,去执行烧毁下一片NAND Flash,这样就不能完全彻底烧毁。
实现思路